NASCIMENTO, Raphael; SPEZIALI, Marcelo. PATENTOMETRIA: A utilização de dados contidos em patentes como mecanismo de análise da predominância tecnológica dos NITs. Encontro Internacional de Gestão, Desenvolvimento e Inovação (EIGEDIN), [S. l.], v. 4, n. 1, 2020. Disponível em: https://periodicos.ufms.br/index.php/EIGEDIN/article/view/11705. Acesso em: 5 fev. 2026.