Nascimento, R. e Speziali, M. (2020) “PATENTOMETRIA: A utilização de dados contidos em patentes como mecanismo de análise da predominância tecnológica dos NITs”, Encontro Internacional de Gestão, Desenvolvimento e Inovação (EIGEDIN), 4(1). Disponível em: https://periodicos.ufms.br/index.php/EIGEDIN/article/view/11705 (Acesso em: 5 fevereiro 2026).