R. Nascimento e M. Speziali, “PATENTOMETRIA: A utilização de dados contidos em patentes como mecanismo de análise da predominância tecnológica dos NITs”, Enc. Int. Gest., Desenvolv. e Inov., vol. 4, nº 1, out. 2020, Acesso em: 5º de fevereiro de 2026. [Online]. Disponível em: https://periodicos.ufms.br/index.php/EIGEDIN/article/view/11705